Welcome, Zetasizer Nano Series users 

歡迎 Zetasizer Nano 系列用戶

測量速度最高提升 40% —— Zetasizer Advance 系列

作為 Nano 系列的後續機型，Zetasizer Advance 提供更高的再現性、更短的測量時間以及更優異的操作體驗。對於正在考慮設備升級的用戶而言，是理想的替換方案。

Zetasizer Advance 系列的主要升級

Adaptive Correlation

• 顯著縮短測量時間
  透過強化的分析演算法，測量時間最高可縮短 40%.
• 提升測量再現性
  有效降低大顆粒與污染對測量結果的影響，提供更穩定且可靠的測量數據。

全新軟體 ZS Xplorer

• 支援 Windows 11
  完整支援 Windows 11，提供更現代且流暢的使用體驗。
• 直覺化圖示式測量設定
  透過圖示化介面，可快速且直覺地設定測量條件。
• 記錄列表中的品質檢查圖示
  測量品質指標可直接顯示於記錄列表中，讓使用者能一目了然地確認數據可靠性。

高鹽濃度樣品測量

• 可有效避免電極附近過熱問題，
  即使在高鹽濃度條件下仍能進行穩定且可靠的 Zeta 電位測量。

更高解析度的粒徑分佈測量

• 透過 前向、側向與後向三個方向進行測量，可獲得更準確且解析度更高的粒徑分佈結果。

粒子濃度測量

• 利用 MADLS® 技術，系統可計算粒子濃度（particles/mL）。

微量樣品測量

• 提供一次性粒徑測量池
• 粒徑分析僅需 3 µL 樣品即可完成測量。

螢光與各向異性粒子的光學濾光片

• 螢光去除濾光片
  即使對螢光粒子也能進行穩定測量。
• 偏振濾光片
  可用於估算粒子的各向異性特性。