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最全面的粉末繞射分析軟體套件

HighScore 是一套功能全面且專為粉末繞射樣品的相鑑定、半定量相分析、圖譜處理與比對等分析而設計的軟體。它支援所有 Malvern Panalytical XRD的數據分析,並能相容多數其他品牌的繞射圖譜。透過不斷的創新與更新,HighScore 與 HighScore Plus為使用者提供最全面且操作簡便的 XRD 粉末繞射分析解決方案。

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除了5.3a版本的功能外,以下是您從4.x版本升級時將獲得的一些新功能:

  • 新增配對分佈函數(PDF)擬合和模擬功能
  • HighScore 現在支援64位元,充分利用你的電腦記憶體,不再受限於2GB
  • 原始的 XRDML 檔案現在可以嵌入到 HPF2 檔案裡
  • 新增層厚度分析的選項
  • 現在可以直接從HPF2檔案的過去工作紀錄中自動創建智慧批次
  • 使用主成分分析(PCA)進行 2D 資料去噪
  • 新增平行擬合選項,可以將同一個模型應用到多個掃描資料上

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除了5.3a 版本的功能外,以下是您從3.x版本升級時將獲得的一些新功能:

  • 新增群集分析功能,包括 t-SNE 方法
  • 智慧批次:重新設計的用戶批次設置
  • 新增分析功能:PLS回歸分析,可直接從原始數據預測任何類型的依賴性屬性(如結晶度、溫度等)
  • 改進的偏好取向模型
  • 通過內部優化大幅提升擬合性能
  • 新增峰形和不對稱建模選項
  • 參數轉換,可將例如定量 Rietveld 結果轉換為典型的 XRF 結果,顯示元素、氧化物、硫化物或任何用戶定義的化學公式
  • ExtSym 分析,用於確定空間群
  • 位圖轉掃描器轉換器
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除了5.3a 版本的功能外,以下是您從4.x版本升級時將獲得的一些新功能:

  • 新增配對分佈函數(PDF)擬合和模擬功能
  • HighScore 現在是64位程式,可以使用您電腦的所有記憶體,不再受限於2GB
  • 原始 XRDML 檔案現在可以嵌入到 HPF2 檔案中
  • 新增層厚度分析選項
  • 現在可以直接從HPF2檔案的過去工作紀錄中自動創建智慧批次
  • 使用主成分分析(PCA)進行2D資料去噪
  • 新增平行擬合選項(將同一模型應用到多個掃描)

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除了5.3a 版本的功能外,以下是您從3.x版本升級時將獲得的一些新功能:

  • 新增群集分析功能,包括t-SNE方法
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  • 新增分析功能:PLS回歸分析,直接從原始數據預測任何類型的依賴性屬性(如結晶度、溫度等)
  • 改進的偏好取向模型
  • 通過內部優化大幅提升擬合性能
  • 新增峰形和不對稱建模選項
  • 參數轉換,可將例如定量 Rietveld 結果轉換為典型的 XRF 結果,顯示元素、氧化物、硫化物或任何用戶定義的化學公式
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以下是我們的建議

  • HighScore 版本 5.3a 設計適用於 Windows 10 (64 位元) 或 Windows 11 (64 位元) 企業版作業系統。
  • 符合所需 Windows 作業系統最低硬體需求的電腦配置即可運行。
  • 21 CFR Part 11:
    HighScore 可以通過新推出的 OmniTrust 和 OmniAccess 解決方案支持 21 CFR Part 11 合規性。
  • 審計追蹤:
    對於現有的審計追蹤客戶,我們已經提供 HighScore 4.9 的最終版本。從 HighScore 5.0 版本開始,將不再與審計追蹤解決方案兼容。
  • 自動化:
    如果您在自動化環境中運行 HighScore 或 RoboRiet,建議您在升級前聯繫我們的支援團隊。